Арт. LBSL5-50-20-2P2
- Предназначен для систем лазерной сканирующей микроскопии
- Угол сканирования: ±7,8°×±7,8°, ±8,1°×±8,1°
- Спецификация резьбы: SM30, SM2
Сканирующие объективы LBTEK имеют телецентрический оптический тракт и коррекцию аберраций по схеме f-theta, преобразуя угловое отклонение гальваносканера в линейное смещение на фокальной плоскости, обеспечивая подавление геометрической дисторсии и плоский вывод изображения. Эта серия изделий в первую очередь предназначена для систем лазерной сканирующей микроскопии и может использоваться совместно с тубусными линзами и объективами для реализации телецентрического оптического тракта формирования изображения. Рабочий диапазон длин волн охватывает видимый и ближний инфракрасный диапазоны, с вариантами 400–750 нм, 450–1100 нм, 680–1300 нм и 800–1800 нм, выбираемыми в зависимости от конкретного применения.
324 005
Характеристики
| Диаметр корпуса: 35 мм | Тип резьбы: SM30(M30,5×0,5) |
| Длина резьбы: 3,0 мм | Рабочее расстояние: 26,4 мм |
| Удаление выходного зрачка: 37,8 мм | Угол сканирования: ±11,5°/±8,1°×±8,1° |
| Диапазон сканирования: 19,9 мм/14,1 мм×14,1 мм |
Документы
PDF-LBSL5-50-20-2P2
77.8 Кб